Beli Texas Instruments SN74LVTH182512DGGR IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-TSSOP

Imej mungkin representasi.
Lihat spesifikasi untuk butiran produk.

Helaian data

SN74LVTH182512DGGR

IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-TSSOP

Nombor Bahagian

SN74LVTH182512DGGR

Pengeluar/Jenama

Texas Instruments

Siri

74LVTH

Status Bahagian

Active

Pembungkusan

Cut Tape (CT)

Suhu Operasi

-40°C ~ 85°C

Jenis Pemasangan

Surface Mount

Pakej / Kes

64-TFSOP (0.240", 6.10mm Width)

Pakej Peranti Pembekal

64-TSSOP

Voltan bekalan

2.7 V ~ 3.6 V

Bilangan Bit

Jenis Logik

ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers

Minta Sebut Harga

Sila lengkapkan semua medan yang diperlukan dan klik "SERAH", kami akan menghubungi anda dalam masa 12 jam melalui e-mel. Jika anda menghadapi sebarang masalah, sila tinggalkan mesej atau e-mel kepada [email protected], kami akan bertindak balas secepat mungkin.

Dalam stok 17539 PCS

Maklumat perhubungan

Produk Berkaitan

SN7400D

IC GATE NAND 4CH 2-INP 14-SOIC